Piëzo-elektrisch keramisch PZT-materiaal

Wanneer piëzo-elektrisch plaatkristal is doteringsconcentratie van piëzo-elektrisch keramisch materiaal Mn is laag, Mn komt voornamelijk in het kristalrooster terecht, De druksensor van de piëzo-elektrische transducer vervormt het kristalrooster en bevordert het sinteren van het piëzo-elektrische keramische materiaal dat tot korrelgroei leidt. Wanneer het Mn-gehalte echter een bepaalde waarde bereikt, wordt Mn van Het gegevensblad van de piëzo-elektrische plaat hoopt zich op aan de korrelgrenzen, waardoor de korrelgrenzen worden vastgezet, de groei van de korrels wordt belemmerd en de korrelgrootte van de monsters wordt verkleind. Uit het secundaire elektronenbeeld in dwarsdoorsnede van het monster blijkt ook dat naarmate de hoeveelheid Mn-dotering toeneemt, de sterkte van de verplaatsingsmeting van de piëzo-elektrische transducer afneemt omdat de meeste korrels breken wanneer het monster breekt, wat verband kan houden met het volume van het sterkte-effect, maar de belangrijkste factor kan de Mn-dotering zijn. Diëlektrische eigenschappen van de piëzo-elektrische schijf ultrasone transformator zijn X- en tan W-curven voor verschillende Mn-doteringsniveaus bij kamertemperatuur. Uit de figuur blijkt dat de opname van Mn afneemt, de X en tan W neemt af naarmate de hoeveelheid opname toeneemt. Wanneer de hoeveelheid Mn doping≤0,4% bedraagt, wat behoort tot de 'harde' additieven, komt Mn in het rooster terecht. De monsters vertoonden acceptor-doteringseigenschappen, zodat de diëlektrische constante van het monster afnam; wanneer de Mn-dotering r> 0,4% is, hoogfrequent piëzo-elektrisch kristal dringt de korrelgrens binnen, de korrelgrootte neemt af en de korrelverdeling is ook zeer ongelijkmatig. Dit zal ook X en tan W verminderen. Grotere korrels verminderen de spanning op de korrelgrenzen tijdens polarisatie en verminderen het diëlektrische verlies, wat een van de redenen is waarom tan W afneemt met toenemende Mn-dotering. De Curietemperatuur in dit experiment wordt gemeten door het meten van de relatieve diëlektrische constante X en de temperatuur T-curve om de TC-, quaternaire piëzo-elektrische keramiek Tc en d33 en Mn-doteringscurve te meten. De wet van verandering van TC is precies het tegenovergestelde.