Anailís turgnamhach ar ocsaídí íon

Anailís turgnamhach ar ocsaídí íon mar amhábhair: Pb3 O4, TiO2, ZrO2, ZnO, Nb2O5, M nO2, Sb2 O3. De réir na foirmle x Pb O3- y PbO3 - z PbTiO3 -, Pb ZrO3 + rM n, áit a bhfuil 0. 10 ~ 0. 20, y = 0. 020 ~ 0. 040, z = 0. 4 ~ 0 5, bhí méid dópála r (Mn, 0.2%) agus 0. 0.8% dioscaí démoirf piezoelectric . mar chomhábhair a mheáigh Déantar an ocsaíd mheasctha mheáite a mheá liathróid ar feadh 6 h ar próca agate agus liathróid agate, ansin é a chriathar tirim agus preform ag 40 M Pa. Is é an teocht réamh-dhó 800 ~ 850 ° C, is é 2 h an réamhdhó. An réamh-cailcínithe dioscaí trasducer piezo mar thalamh le haghaidh muilleoireachta tánaisteach. Scriosadh an púdar triomaithe agus ansin múnlaíodh é faoi bhrú 120 M Pa. Ba é méid an tsampla ná 16 mm × 1 mm. Tar éis an corp glas a mhúnlú, sintéaraíodh é ag 1200-1 260 ° C ar feadh 1 uair thart. Is é an ciorcad diosca sintéaraithe piezo ná wafer meilt, glanadh, triomú, tá an sampla ar na leictreoidí uachtaracha agus íochtaracha. Tá coinníollacha polaraithe an tsampla faoi thimpeallacht polaraithe 120C. an réimse leictreach polaraithe de dioscaí piezo sádrála ná 3 kv / mm, tá polarú 20 min ag an teocht an tseomra ar feadh 48 h.tar éis an tástáil a performance.The anailís chéim ar an bhileog criostail práis piezo a rinneadh ag Rigaku 3015 X-gha diffractometer agus an trasghearradh den sampla sintéaraithe anailís SEM.The tréleictreach tairiseach X agus tan WDF thomhas ag an seomra tástála minicíochta X118 agus droichead. Is é 1 kHz an bailiú diosca. De réir na gcaighdeán náisiúnta tástála criadóireachta piezoelectric chun an teocht curie a chinneadh. Ag baint úsáide as Acadamh Eolaíochtaí na Síne Beijing Institute of acoustics ZJ-2 samhail tástála tástálaí quasi-statach d33 tairiseach piezoelectric d33. Rinneadh an minicíocht athshondas fr, an minicíocht frith-athshondas fa agus minicíocht overtone na n-aistritheoirí sorcóra piezo a thomhas ag an modh tarchurtha líne, agus fuarthas kp agus Q m trí tábla breathnú suas agus ríomh. Is é an anailís moirfeolaíoch faoi seach an dara íomhá leictreon le hábhar dópála Mn difriúil. Is féidir a fheiceáil ón mhoirfeolaíocht thrasghearrthach, de réir mar a mhéadaíonn an méid dópála M, go dtiocfaidh méadú de réir a chéile ar mhéid gráin an tsampla, agus nuair a bhíonn an méid dópála r = 0.4%, is é an méid gráin is mó. Le méadú ar ábhar Mn, laghdaítear an méid gráin agus éiríonn an dáileadh gráin níos mó agus níos mó míchothrom.