Nuus

Jy is hier: Tuis / Nuus / Basiese beginsels van piëso-elektriese keramiek / Enkelkant gemaalde alumina piëzo keramiek substraat

Enkel-kant gemaalde alumina piëzo keramiek substraat

Kyke: 1 Skrywer: Werfredakteur Publiseertyd: 2018-10-10 Oorsprong: Werf

Doen navraag

Deur die toevoeging van 'n roes inhibeerder, die alumina piezo keramiek substraat kan effektief voorkom word om geel te word na polering, en die poleer effek word nie beïnvloed nie. Daarom, in die hoë-doeltreffendheid uitdunning en ultra-gladde polering van alumina piëzo keramiek substrate, is dit moontlik om 'n roes inhibeerder by die slyp te voeg, poleer vloeistof is om 'n goeie proses oppervlak te verkry en gebreke in die voorkoms en werkverrigting te vermy. keramiek maal is die ergste. Die materiaalverwyderingstempo van die diamantskuurmiddel in die enkelkantslypmetode is 4,6 keer dié van die dubbelkantslyp. Die hoër materiaalverwyderingstempo veroorsaak meer skade aan die piëzo-keramiekoppervlak, dus is die oppervlakruwheid Ra van die diamant wat verkry word deur enkelsydige slyp, ook hoër. In vergelyking met die enkelkantslyp op die piëzo-keramiekslyp, is die materiaalverwyderingstempo na enkelkantslyp op die gietyster-slypskyf so hoog as 7,1 m/min, wat 7,1 keer dié van eersgenoemde is, terwyl die oppervlakruwheid van die skuurblad laer is as eersgenoemde.

Aan die een kant, om die skuurmiddel tussen die slypskyf en die werkstuk te verwyder, HIFU piezo keramiek het die effek van herwinning van die skuur, dit is nodig om die slyp piezo oppervlak te groef, en verskillende groef strukture het verskillende effekte op die maal verwerking effek. Die gietyster-piezo-skyfoppervlak neem 'n fyn ringvormige groef aan. Die groef van hierdie struktuur kan die poleervloeistof tot 'n groot mate op die slypskyfoppervlak hou sonder om te ontsnap, en daar is meer skuurdeeltjies teen dieselfde vloeitempo. Dit werk op die slypwerkstuk om die oppervlakmateriaalverwyderingstempo hoër te maak na slyp; terwyl die piëzo-keramiek-slypskyfoppervlak die struktuur van die kruisgroef aanneem, laat die groef van hierdie struktuur die meeste van die skuurmiddel toe om binne-in die groef te vul en saam met die slypskyf te draai. In die slypaksie-area werk slegs 'n klein hoeveelheid skuurmiddel tussen die slyp-piezo-oppervlak en die slypwerkstuk, sodat slegs 'n klein hoeveelheid skuurdeeltjies op die slypwerkstuk inwerk teen dieselfde suspensievloeitempo, sodat die oppervlakmateriaalverwyderingstempo na slyp laag is.Aan die ander kant is die gietyster-piezo-skyf sagter as die slypwerkstuk. Die skuurmiddel is hoofsaaklik in die oppervlak van die gietyster-slypskyf ingebed om mikrosny-verwydering op die slypwerkstuk uit te voer. Die verwydering koers van HIFU piezo transducer oppervlak materiaal is hoog, en die verwydering meganisme het 'n skade area op die oppervlak. die oppervlakruwheid Ra na slyp is laer; terwyl die keramiekskyf harder is as die skuurwerkstuk, produseer die skuurmiddel hoofsaaklik drieliggaam-rolwrywing tussen die slypskyf en die werkstuk, en die verwyderingstempo van oppervlakmateriaal is laag.

Die skadearea wat op die oppervlak gegenereer word, is groot, en die oppervlakruwheid Ra na polering is ook hoog. Vir die hoë intensiteit gefokusde piëzo- oppervlakgatgebied, streke 2, 3 en 4 is keramiekoppervlakstreke, wat onsuiwerheidsstreke van die piëzo-keramiekoppervlak is. Die oppervlak van die alumina-piezo-keramiek bevat nie Fe-element nie, wat aandui dat die oppervlak van die alumina-piezo-keramiek geen yster of ooreenstemmende kontaminantresidu het na enkelkant-slyp op die gietyster-slypskyf nie; dit kan gesien word dat die oppervlakte van die alumina piëzo-keramiek nie Fe-element bevat nie. Daar word gesê dat yster wat migreer vanaf die oppervlak van die gietyster maalskyf na die oppervlak van die piëzo keramiek substraat, en geel kontaminante wat chemies toegedien en bedek word op die piëzo keramiek oppervlak meganies verwyder en ontsnap word deur maal. Dit kan gesien word dat die witstofagtige onsuiwerhede onderskei word van die gepoleerde alumina piëzo-keramiekoppervlak, en onsuiwerhede is wat nie deeglik verwyder en skoongemaak is nie, en die elementtipes daarin bevat Mg-, Si- en Fe-elemente bykomend tot die O- en Al-elemente. Onsuiwerhede kan verwyder word deur daaropvolgende slyp- en poleerprosesse en ultrasoniese skoonmaak.

Daarom is daar geen vergeling op die oppervlak van die HIFU piëzo-elektriese element substraat na enkel-kant slyp. Dit word beskou dat tydens die enkel-kant slyp proses, die yster ontsnap uit die gietyster slyp skyf migreer na die piëzo keramiek deur die vloei van die poleer vloeistof. Op die oppervlak van die substraat, chemiese aksie vind plaas om geel kontaminante te vorm en is die vorming van die oppervlak van die piezo ceramic tempo en bedek die oppervlak van die piezo ceramic tempo. skuurdeeltjies word ook van die oppervlak van die piëzo-keramieksubstraat verwyder tydens die slypproses. wanneer die materiaalverwyderingstempo groter of gelyk is aan die tempo van geel kontaminante. Dit sal verwyder en ontsnap word op dieselfde tyd as wat dit gegenereer word. Daarbenewens het die piëzo-keramiekoppervlakgate nie yster of die ooreenstemmende kontaminante nie, en die chemiese aksie word verhoed om in die daaropvolgende verwerking en toepassing van die alumina piëzo-keramieksubstraat te voorkom, wat die prestasie beïnvloed. Daarom kan die enkelkant-maalproses met 'n hoër verwyderingstempo die probleem van vergeling van die oppervlak van die alumina piëzo-keramieksubstraat oplos. Aangesien die skuurmateriaal die sterkste verwyderingseffek het en meer geskik is vir enkelkantslyp, is die oplossing geskik vir enkelkantslyp met diamant as die skuurmiddel.