Ytelsestestmetode for piezoelektrisk keramisk materiale

Curie temperatur

Når temperaturen er høyere enn kurietemperaturen (Tc), vil piezoelektrisk keramisk platetransduser er i paraelektrisk fase, og den spontane polarisasjonen og piezoelektrisiteten forsvinner også. Ved Curie-temperaturen vil mange fysiske egenskaper til piezoelektriske keramiske materialer, som permittivitet, varmekapasitet og lineær ekspansjonskoeffisient, gjennomgå plutselige endringer. Derfor kan Curie av piezoelektriske keramiske materialer bare bestemmes ved å måle temperaturen som tilsvarer det plutselige endringspunktet. temperatur.

 

Langsgående piezoelektrisk tøyningskonstant (statisk)

I fravær av eksternt elektrisk felt, oppfyll de elektriske kortslutningsforholdene

 

Sterke felt dielektriske egenskaper

Den frie relative permittivitet og dielektrisk tap tangens av piezoelektriske keramiske transdusere er relatert til temperatur, fuktighet, frekvens av vekslende elektrisk felt, feltstyrke og tidspunkt for påført spenning. Dielektriske egenskaper refererer generelt til fri relativ permittivitet og dielektrisk tap-tangens.

 

Pyroelektrisk koeffisient

 Den pyroelektriske koeffisienten til piezoelektriske keramiske materialer ble målt ved ladningsintegrasjonsmetode. Denne metoden bestemmer endringen i remanent polarisering med temperaturen ved å måle den pyroelektriske ladningen akkumulert på kondensatoren.

 

Strekkvibrasjonsmodusen til sylinderens lengdelengde

I vibrasjonsmodusen for strekking av lengdelengde er det spennende elektriske feltet parallelt med forplantningsretningen til den elastiske bølgen, og den elastiske stivheten (eller ettergivenheten) er relatert til den elektromekaniske koblingseffekten.

 

Wafer Thickness Stretch Vibration Mode

Under tilstanden av elektrisk kortslutning, frekvensen av den strekkbare vibrasjonsmodusen av tykkelsen på den frie vibrasjonshelelektroden piezoelektriske transduserkomponenter beregnes i henhold til formelen tanx=x/kt2. Kt — tykkelse strekking vibrasjon elektromekanisk koblingskoeffisient, X — verdi av normalisert frekvens.

 

Tykkelse Skjærvibrasjonsmodus for rektangulær plate

Tykkelsens skjærvibrasjon er vist i figuren, prøven polariseres langs 1-retningen, og det elektriske eksitasjonsfeltet påføres langs 3-retningen, deretter genereres skjærkraften på 1- og 3-planene som vist i a, og 1- og 3-planene skjæres som vist i b, når Når det elektriske feltet er reversert, produserer 1- og 3-planene som vist i motsatte retninger. Under eksitasjonen av det vekslende elektriske feltet produserer prøven skjærvibrasjoner der partikkelforskyvningen er langs 1-retningen, og forplantningsretningen til bølgen er langs 3-retningen, så skjærbølgen er en tverrbølge.

 

Transmisjonslinjemetodetest av karakteristisk frekvens og dynamisk motstand

 

 Ved å bruke overføringslinjemetoden til piezokeramikkkrystall for å teste den karakteristiske frekvensen og den dynamiske motstanden under lengdelengde-strekkvibrasjonsmodusen til sylinderen, strekkvibrasjonsmodusen for skivetykkelsen og skjærvibrasjonsmodusen til den rektangulære skivetykkelsen skal utføres i henhold til forskriftene.