Language
Pandangan: 8 Pengarang: Editor Tapak Masa Terbit: 2018-08-28 Asal: tapak
Pada masa kini, seramik piezo telah digunakan secara meluas dalam bidang elektronik, kimia, ketenteraan dan lain-lain kerana kekerasan yang tinggi, kekuatan, rintangan kakisan yang sangat baik dan sifat penebat. Memandangkan komposisi seramik piezo dan bahan mentah adalah faktor utama untuk menentukan prestasi, pengesanan masa nyata dan kawalan kandungan seramik dan bahan mentah adalah sangat penting untuk menghasilkan seramik berprestasi tinggi. Kaedah analisis seramik piezo tradisional
tidak dapat memenuhi keperluan pengesanan pantas kerana prosedurnya yang kompleks dan memakan masa. Dalam tesis ini, teknologi probe laser digunakan untuk menganalisis komposisi seramik aluminium oksida dan bahan mentahnya kerana ciri-ciri cepat, masa nyata dan berbilang unsur.
Berdasarkan mesin probe laser yang dibangunkan sendiri, komposisi seramik aluminium oksida telah dianalisis secara kualitatif. Lapan jenis utama piezo fokus intensiti tinggi dan garis spektrum cirinya telah dikenal pasti di atmosfera dan parameter eksperimen telah dioptimumkan. Keputusan menunjukkan bahawa isyarat plasma dengan nisbah S/N yang lebih baik di bawah permukaan sampel, tenaga nadi boleh diperolehi pada jarak tidak fokus 3 mm , kelewatan masa dan tekanan 1500 Pa dalam argon.
Sebagai tambahan, denda spektrum molekul radikal bebas Al0 ditemui semasa interaksi laser dengan seramik aluminium oksida. Bentuk dan evolusi pzt 5a bahan seramik piezo dengan kelewatan masa dan punca tenaga telah dibincangkan, yang menyediakan rujukan garis spektrum molekul lain melalui probe laser.
Akhir sekali, unsur piezo Mg、K, Ca, Fe、Na dan Ti bahan mentah cakera seramik berwayar ultrasonik telah dianalisis secara kuantitatif oleh probe laser berdasarkan kaedah penentukuran dalaman. Keputusan menunjukkan bahawa semua pekali bersandar linear bagi lengkung penentukuran mencapai 0.94mm. Tambahan pula, keamatan spektrum, kestabilan dan korelasi linear adalah pekali bagi lengkung penentukuran yang kesemuanya merupakan teknologi yang dipertingkatkan, sedikit sebanyak, selepas memanaskan sampel standard. Yang penting, probe laser mempunyai tahap analisis yang sama seperti EDXRF (Energy Dispersive X-Ray Fluorescence) tetapi ia adalah lebih rendah daripada kaedah analisis kimia. Khususnya untuk unsur seramik utama Mg, K dan Ca, ketepatan pengesanan probe laser adalah lebih baik daripada EDXRF.
Teknologi probe laser, spektroskopi patah akibat laser (spektroskopi pecahan Laser-Induced, teknologi LIES dinamakan untuk banyak persamaan dalam prinsipnya dengan penganalisis probe elektronik. Prinsip asas ialah ketumpatan tinggi bahan piezoelektrik piezometer akustik digunakan untuk merangsang analit, menjana plasma, dan menggunakan spektrometer ke plasma. Spektrum ciri peralihan tenaga bagi atom dan ion dalam badan dianalisis, dan kaedah analisis jenis dan kandungan setiap elemen piezo diperolehi. Pada tahun 1962, Brech pertama kali melaporkan kemungkinan penentuan probe gas dan kandungan cecair pepejal di dalam laser. dekad selepas itu, teknik ini telah menjadi tumpuan perhatian sebagai kaedah pengukuran jenis baharu.
