非破壊検査用の低コスト圧電ディスクトランスデューサ

                 
                             非破壊検査用の低コスト圧電ディスクトランスデューサ

WuHan Piezohannas Tech.Co.,Ltd は、強力な技術力を備えた圧電セラミックス、超音波トランスデューサーのメーカーです。品質管理システムと研究開発部門により、当社の製品はほとんどの用途で広く使用されています。

PZT4素材ピエゾディスク

圧電ディスクトランスデューサ

非破壊検査用ピエゾディスク

サイズ：

ピエゾディスクの標準サイズ:

生産するピエゾディスクの範囲:

直径: 2mm-120mm
厚さ:0.1mm-30mm

アプリケーション:

圧電材料は優れた力と電気の結合特性を備えており、非破壊検査の分野で広く使用されています。圧電振動非破壊検査技術には以下の特徴があります。 1) 大型構造物の小さな内部損傷に敏感です。 2）安定性と信頼性が高く、動作範囲が広く、より複雑な作業条件に適応できます。 3) より確実な安定性。その後のデータ処理が簡単です。本稿では圧電非破壊検査装置の全体設計について紹介します。

非破壊検査 (NDT) の分野は非常に広範で学際的な分野であり、構造コンポーネントやシステムが信頼性が高くコスト効率の高い方法でその機能を実行することを保証する上で重要な役割を果たします。 NDT の技術者やエンジニアは、飛行機の墜落、原子炉の故障、列車の脱線、パイプラインの破裂、その他目に見えにくいが同様に厄介なさまざまな事象を引き起こす可能性のある材料の状態や欠陥を特定し、特徴付けるテストを定義および実装します。これらのテストは、物体や材料の将来の有用性に影響を与えない方法で実行されます。つまり、NDT を使用すると、部品や材料に損傷を与えることなく検査や測定を行うことができます。 NDT は製品の最終用途を妨げることなく検査できるため、品質管理と費用対効果の優れたバランスを実現します。一般に、NDT は工業検査に適用されます。 NDTで使用される技術は医療業界で使用されているものと似ていますが、検査の対象となるのは無生物です。

「硬質」PZT 材料の性能の典型値：

 

硬質PZT素材			PZT-41	PZT-42	PZT-43 /4D	PZT-82	PBaS-4
誘電率	ɛ T r3		1050	1250	1420	1100	1900
結合係数	KP​		0.58	0.58	0.58	0.52	0.59
	K31		0.32	0.33	0.34	0.3	0.34
	K33		0.66	0.67	0.68	0.57	0.68
	Kt​		0.48	0.48	0.48	0.4	0.49
圧電係数	d31	10-12MV	-106	-124	-138	-100	-160
	d33	10-12MV	260	280	300	240	380
	g31	10-3vm/n	-11.4	-11.2	-11	-10.3	-9.5
	g33	10-3vm/n	28	25.3	24	25	22.6
周波数係数	N p		2280	2200	2160	2280	2200
	N1		1671	1613	1583	1671	1613
	N3		1950	1900	1875	1950	1850
	Nt​		2250	2200	2200	2300	2200
弾性コンプライアンス係数	セ​11	10-12m 2/n	11.8	12.7	13.2	11.6	13.2
機械的品質係数	Qm		1000	800	600	1200	2200
誘電損率	ガラス転移温度δ	%	0.3	0.4	0.5	0.3	0.5
密度	ρ	グラム/センチメートル3	7.5	7.5	7.5	7.6	7.5
キュリー温度	Tc	℃	320	320	320	310	310
ヤング率	はい​11	<10 9N/m3	85	79	76	86	76
毒の比率			0.3	0.3	0.3	0.3	0.33

アプリケーションイメージ: