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超音波試験UT検査用の高品質ピエゾディスク

サイズ:
直径:20mm
厚さ:4mm
材質:P-41

用途:非破壊検査
在庫状況:
数量:
  • PZ1000K064

  • ピエゾハナス

  • PZ1000K064

                    超音波試験UT検査用の高品質ピエゾディスク


WuHan Piezohannas Tech.Co.,Ltd は、強力な技術力を備えた圧電セラミックス、超音波トランスデューサーのメーカーです。品質管理システムと研究開発部門により、当社の製品はほとんどの用途で広く使用されています。


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PZT4素材ピエゾディスク


QQ图片20 17072015542 7.jpg

圧電ディスクトランスデューサ



31AFB9AEF0A775B05FBF843CEB753E4E.jpg 非破壊検査用ピエゾディスク


サイズ:


直径:20mm
厚さ:4mm
材質:P-41



ピエゾディスクの標準サイズ:


生産するピエゾディスクの範囲:

直径: 2mm-120mm
厚さ:0.1mm-30mm


超音波検査 (UT) アプリケーション:



超音波検査は、容積測定による非破壊検査 (NDT) 方法です。 UTは表面検査とは異なり、材料の内部の欠陥を見つけることができます。高周波音波は、超音波トランスデューサーを使用して材料に送信されます。材料の欠陥を反射する超音波がグラフで可視化されます。超音波検査により、検出された兆候の深さ、サイズ、性質、方向についての洞察が得られます。パイプの肉厚などの材料の厚みも測定できます。 MME グループは、あらゆる産業分野に UT 検査を適用する数十年の経験があります。


「硬質」PZT 材料の性能の典型値:

 

硬質PZT素材



PZT-41

PZT-42

PZT-43 /4D

PZT-82

PBaS-4

誘電率

ɛ T r3


1050

1250

1420

1100

1900









結合係数 

KP​


0.58

0.58

0.58

0.52

0.59


K31


0.32

0.33

0.34

0.3

0.34


K33


0.66

0.67

0.68

0.57

0.68


Kt​


0.48

0.48

0.48

0.4

0.49

圧電係数

d31

10-12MV

-106

-124

-138

-100

-160


d33

10-12MV

260

280

300

240

380


g31

10-3vm/n

-11.4

-11.2

-11

-10.3

-9.5


g33

10-3vm/n

28

25.3

24

25

22.6

周波数係数

N p


2280

2200

2160

2280

2200


N1


1671

1613

1583

1671

1613


N3


1950

1900

1875

1950

1850


Nt​


2250

2200

2200

2300

2200

弾性コンプライアンス係数

セ​11

10-12m 2/n

11.8

12.7

13.2

11.6

13.2

機械的品質係数

Qm


1000

800

600

1200

2200









誘電損率

ガラス転移温度δ

%

0.3

0.4

0.5

0.3

0.5

密度

ρ

グラム/センチメートル3

7.5

7.5

7.5

7.6

7.5

キュリー温度

Tc

℃

320

320

320

310

310

ヤング率

はい​11

<10 9N/m3

85

79

76

86

76

毒の比率



0.3

0.3

0.3

0.3

0.33



アプリケーションイメージ:


45%DFE8-UYQ-A(3TRYS21NX)

 NDT トランスデューサー用ピエゾ ディスク センサー ピエゾ セラミック クリスタルを購入する




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