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の厚さ 超音波厚さ測定ゲージは、 加工産業および表面工学の品質検査の重要な部分となっており、製品が優れた品質基準を達成するために必要な手段です。製品の国際化を図るため、中国の輸出商品や海外関連プロジェクトでは膜厚計に対する明確な要件が設けられています。
の 膜厚測定 法には主にウェッジカット法、光切断法、電解法、膜厚差測定法、秤量法、蛍光X線法、β線後方散乱法、静電容量法、磁気測定法、渦電流測定法などがあります。などなど。これらの方法のうち最初の 5 つは非可逆検出であり、測定方法は煩雑で時間がかかるため、サンプリング検査に適しています。
X線法、β線法は非接触・非破壊測定であり、測定範囲が狭いです。 X線法では極薄めっき、二重めっき、合金めっきの測定が可能です。ベータ線法が適しているのは、 精密超音波厚さ計。コーティング測定。 原子番号が 3 mm を超えるコーティングおよび基板を備えた静電容量法は、薄い導体の絶縁被覆の厚さを測定する場合にのみ使用されます。
X線膜厚計は、近年のマイコン技術の導入など技術の進歩により、超小型化、インテリジェント化、多機能化、高精度化、実用化が進んでいます。測定の分解能は0.1ミクロンに達し、精度は1%に達し、大幅に向上しました。幅広い用途、広い測定範囲、簡単な操作、低コストを備えています。産業や科学研究で幅広く使用される厚さ測定器です。
