Kontrol waktu pelapisan dengan menggunakan pengukur ketebalan lapisan

Pengukur ketebalan lapisan elektronik dapat mengukur secara non-destruktif ketebalan lapisan non-magnetik pada substrat logam magnetik (seperti baja, besi, paduan dan baja magnetik keras) (seperti aluminium, kromium, tembaga, tantalum, karet, cat, dll.) dan non-magnetik Ketebalan lapisan non-konduktif pada substrat logam (seperti tembaga, aluminium, seng, timah, dll.) (misalnya, tantalum, karet, cat, plastik, dll.). Pengukur ketebalan lapisan memiliki karakteristik kesalahan pengukuran kecil, yang memiliki keandalan tinggi, stabilitas yang baik, dan pengoperasian yang mudah. Ini adalah instrumen yang sangat diperlukan untuk mengendalikan dan memastikan kualitas produk. Hal ini banyak digunakan di bidang manufaktur, pengolahan logam, industri kimia, bidang inspeksi seperti inspeksi komoditas.