Reka bentuk parameter elektrik d33 ciri seramik piezo

Terdapat banyak kaedah pengesanan untuk d33. Instrumen ini bukan sahaja mengekalkan ciri-ciri kaedah dinamik, tetapi juga mengelakkan kekurangan operasi manual dan memakan masa. Ia adalah alat yang mudah dan pantas untuk ujian d33. Dalam beberapa tahun kebelakangan ini, negara asing telah membangunkan instrumen pengukuran rintangan kawalan berangka yang boleh disambungkan dengan komputer, seperti penganalisis impedans HP4192A. Ia masih menggunakan kaedah kuasi-statik untuk mengesan cas di bawah tindakan tekanan, tetapi disebabkan oleh faktor-faktor seperti pengecilan cas, kebocoran dan keperluan ketat penguat cas, ketepatan pengesanan terjejas pada tahap tertentu, jadi ia dipopularkan dengan lebih keras secara meluas. sampel yang sama diukur dengan kaedah di atas. Nilainya tidak konsisten sepenuhnya, jadi parameter d33 yang dikesan hanya mempunyai kepentingan rujukan, tetapi kebolehbandingan adalah terhad. kaedah berdasarkan kekerapan sapuan direka untuk peranti ujian. Peranti menggunakan kaedah pengesanan resonans dan frekuensi anti resonans, yang mengekalkan ciri-ciri pelbagai parameter dan ketepatan tinggi pengukuran dinamik; pada masa yang sama, ia boleh mengesan dan mengira parameter bahan PZT lain, mengelakkan keburukan operasi manual yang membosankan dan pengiraan yang memakan masa, dan meluaskan skop penggunaan kaedah dinamik.           

Prinsip pengukuran nilai d33        

 Nilai D33 mencerminkan daya terikan yang dihasilkan apabila voltan unit dikenakan pada kristal piezoelektrik pzt piezo ceramics , yang dipanggil pemalar terikan piezoelektrik.       

Voltan seramik piezoelektrik C. ialah jumlah kapasiti (f); F. ialah daya sepanjang arah polarisasi seramik (n). Terdapat banyak kaedah pengukuran untuk seramik piezoelektrik d33, seperti pengukuran elektrik, pengukuran akustik, pengukuran daya dan pengukuran optik, antaranya pengukuran elektrik adalah yang paling biasa. Terdapat tiga jenis pengukuran elektrik: ① kaedah statik. Kaedah statik adalah menggunakan kesan piezoelektrik positif daripada cakera seramik piezoelektrik , iaitu menambah daya malar F3 dan mengukur d33 bahan dengan cas q yang dihasilkan. ② Kaedah dinamik. dengan mengukur frekuensi ciri plat seramik piezoelektrik, dan menggunakan beberapa parameter untuk menentukan bahan plat seramik piezo d33 ③ kaedah kuasi statik. Prinsip asas adalah sama seperti kaedah statik, kecuali daya F yang dikenakan pada sampel. Ia tidak tetap, tetapi daya getaran berselang-seli frekuensi rendah. Kaedah ujian nilai D33 boleh secara langsung mencerminkan kesan piezoelektrik hubungan linear antara daya dan cas yang dijana komponen seramik piezoelektrik; dalam kaedah ujian, terdapat juga peranti ujian komputer dalam talian, tetapi ia berdasarkan seramik piezoelektrik dalam persekitaran ujian.